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低温冲击试验与低温卷绕试验的区别与应用

日期:2024-09-04 23:45
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摘要:低温冲击试验与低温卷绕试验的区别与应用

低温冲击试验与低温卷绕试验的区别与应用

低温冲击试验装置


一.  产品概述:符合GB2099.1-2008第24.4条及30.4条要求(图27及图42)、IEC60884-1、VDE0620等标准要求,适用于对插头、插座、开关、等进行低温冲击试验。

二、技术参数

1、本低温冲击设备应与低温箱配套使用,设备应放在约40mm厚的海绵橡皮垫上,试验前和试验期间均应置于合适的低温箱内;

2、跌落冲击高度:10~250mm可调;

3、底座厚度:40mm、重量:10±1kg

4、低温冲击试样类型、落锤质量、钢制垫块及跌落高度对照选配表

低温冲击试样

标准规格

落锤质量g

钢制垫块

跌落冲击高度mm

备注

插座盒及类似电器外壳

GB2099.1-200824.4条款,图27

1000±2

Ф20mm、球面半径R300          重量 100g

100



低温卷绕试验装置

一、产品概述:

本装置符合IEC540、GB2951标准要求,适用于小线径的圆形绝缘线芯及不能制备哑铃试件的扇形绝缘线芯进行低温卷绕试验,本装置与低温试验箱配套使用。

二、技术参数:

1、试样直径:2.5~12.5㎜

2、试样缠绕卷线:2~10圈

3、管子出口直径:3、4、5、6、7、8、9、10、12、14、16(mm)

4、试棒直径: 9.6、12.5、16、20、25、31.5、40、50(mm)


粤公网安备 44030602001687号

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