SMD3225贴片晶振测试仪的测试方法

SMD3225贴片晶振测试仪的测试方法

随着电子产品的发展，贴片晶振的应用越来越越多，那么如何去测试贴片的晶振性能呢，比如贴片的晶振频率，晶振的误差，晶振的频率是否在标称范围之内。

    因为体积很小，目前国内很少厂家做这方面的夹具和测试仪器。

JC-319高精度晶振测试仪

主要测试各种插件晶振，贴片晶振（3223，5032，7050等规格的封装）的频率，PPM值，等级电阻

特点：1．测量中频1～60MHz石英晶体谐振频率、等效电阻。

2．第四代升级产品，电调谐、新器件，新型测试插座更实用。

3．谐振频率、等效电阻全数显，激励功率可调。精度高，测速快。

4．频率测量精度≤5PPM，可选配更高精度频标。

5．可选配带PPM误差显示和频率分档分选的十三位频率计。

 JC-319高精度晶振测试仪

性能指标：

□　测频范围：1～60MHz。

□  电阻测量范围：1～500Ω。

□  激励功率可调范围：1～1200μW。

□  可调负载电容：12～50PF。  

□  八位频率显示。

□       四位PPM显示，频率上下限、200档分档分选。

□       上下限频率分别设置，超出范围（不合格）时自动声光报警。  

JC-319高精度晶振测试仪

详细资料 

 1． 概述

       JC-319高精度晶振测试仪

是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（机内带可调负载电容12.5pF～50pF，且等效电阻和谐振频率直接读数，激励功率可调）。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。  

2． 技术参数      

2．1  频率范围： 1 ~ 60 MHz     

          频段划分：  1       1 ~ 2.2 MHz

                               2        2.2 ~ 5 MHz  

3        5 ~ 10 MHz     

                               4       10 ~ 20 MHz     

                               5       20 ~ 40 MHz    

                               6       40 ~ 60 MHz    

 2．2  测量网络的终端电阻：源端 24 Ω；负载端 27 Ω。

 2．3  起振电阻范围：

 1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω；

 10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。

 2．4  阻值读数范围：  

0 ~ 1999.9 Ω  误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。

 2．5  激励功率范围： 1.5 ~ 1200μW  误差±25%    

 2．6  负载电容范围： 12.5~50pF   

 2．7  频率计测量准确度： 5 PPM。

2．8      频率计数字显示： 8位。

2．9       2．9  时基稳定性：   短期：1×10 ^–7 /秒     长期：2×10 ^–5 / 月。

               [可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10 ^–8／日]。

 2．10  使用环境： a．环境温度：20℃±2℃；

                                   b．相对湿度：（45 ~ 75）%；

                                   c．大气压强：86 ~ 106 kPa；

                                  d．避免外电磁场干扰，避免阳光直射。

 2．11 **组别：属GB4793《电子测量仪器**要求》中Ⅱ类**仪器。

 2．12 使用电源：220 V ± 2 %，50 Hz±1%。

 2．13 连续工作时间：8小时。

 2．14 消耗功率：小于25 W。

 2．15 外形尺寸：380 mm（宽） X 150 mm（高） X 290 mm（深）。

 2．16 重量： 约 7 kg