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紫外辐照计的技术参数
日期：2024-09-04 16:51
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摘要：
紫外辐照计
适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。本机型为便携式,有单通道和双通道两种。
主要性能指标:
波长范围及峰值波长（任选一种）:
（1）UV－365探头：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420探头：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外带外区杂光：UV365：小于0.02％
UV420：小于0.02％
余弦特性：符合国家...
紫外辐照计
适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。本机型为便携式,有单通道和双通道两种。
主要性能指标:
波长范围及峰值波长（任选一种）:
（1）UV－365探头：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420探头：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外带外区杂光：UV365：小于0.02％
UV420：小于0.02％
余弦特性：符合国家二级光照度标准
准确度：±10％
响应时间：1秒
使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
电源：9V积层电池（6F22型）一只
