32.768KHz晶振测试仪
1．概述
CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。 CX-118A晶振测试仪测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。
2．主要特征
2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度高。
2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。
2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均无故障工作时间≥10000h。
- 整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。
3．技术参数
3.1 测量范围
- 频率测量：A通道:1Hz～100MHz；
B通道:100MHz～1.6GHz(选件)
- 周期测量：A通道:10ns～1s
- PPM测量：-9999～9999ppm
- 上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。
- 分档测量：根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之间任意设置
分档档数：以中心频率F0为中点左右分成16档
- 累加计数：计数容量：0～109－1 (选件)
计数方式：键控、门控或外门控可选。
3.2 输入特性
- 输入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 输入耦合方式：AC
3.2.3 波形适应性：正弦波、脉冲波
- 输入电压动态范围:
A通道：30mVrms～250Vp～p
B通道: 30mVrms～1Vrms
3.2.5 A通道低通滤波器：－3dB 带宽约100kHz
3.2.6 A通道衰减：×1或×20
3.3 测量误差
3.3.1 频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD
100ns
其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期）
闸门时间
触发误差：当被测信号的信噪比为40dB时，触发误差≤0.3%
- PPM测量误差：±时基误差±触发误差±LSD
其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×106ppm
例如：闸门时间=1s时 LSD＝0.1ppm
闸门时间=0.1s时 LSD＝1ppm
3.3.3 计数误差：±1
3.4闸门时间
固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选；
可调闸门：50ms～95ms 分10档，每档间隔5ms。
3.5 晶体振荡器
标称频率：10MHz
频率稳定度：5×10-6/d
（可根据用户需求，选配更高量级的晶振。
如：1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等）。
3.6 外频标输入
输入频率：10MHz
输入幅度：>1Vp～p 正弦波
3.7 显示
13位0.4吋绿色高亮数码管，三个单位LED指示灯（MHz、kHz、Hz），一个闸门LED指示灯(GATE)，一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯（PPM）。
3.8 电源
电压：交流220V±10%
频率：50Hz±5%
功耗：<8VA
3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)
3.10 质量：<1.5kg
